產品特點： 

• 滿足電子設備產品應力篩選，無鉛制程， IEC,MIL相關試驗要求。 
• 可同時控制箱內試樣溫度與空氣溫度， 確保最佳試驗效果。 
• 可設定不同應力篩選溫變率5℃/min、 10℃/min、15℃/min。 
• 等均溫與平均溫（線性與非線性）兩種 試驗方式切換。 可執行快速溫變(應力篩選)、結露試驗、 高溫高濕、溫濕度循環..等多種試驗。
•  試驗箱水路配電盤分離，減少水路故障 對電器照成的安全隱患。 
• 門框四周獨有斷熱層,避免極端溫度影 響試驗箱工作部件。 
• 冷凍系統全部採用進口品牌，集成多項 保護警報功能。 
• 自主研發控制系統，具有中英文畫面語 系切換功能，採用最新模糊演算法技術， 控制設備節能高達30%。

溫度迴圈可篩選的產品瑕疵 Temperature cycling enables screening product defects

材料瑕疵 Materlal defect

a.涂层、材料 、线头裂纹扩大 b.粒子、化学污染 c.密封失效 d.超差零与材质件 e.真空管在低温下内部开路

电子瑕疵 Electronlc defect

a.焊点接触电阻加大 b.焊点造成开路 c.变压器&线圏短路或断路 d.多层版 开路、短路 e.电容器、电晶体不良&短路 f.IC破损 g.电阻器破裂 h.电晶体出现发样裂纹 i.云母绝缘垫片破裂j.线圏间接性的短路 k.元器件参数漂移

生产瑕疵 Productlon defect

a.接头松弛 b.螺钉或接头松弛 c.焊接 和熔接点接续不良 d.冷焊接点 e.不当组装造成短路 f.处理不当造成材质的断裂刻痕 g.线圈金属片固定方式不当 h.没有接地的接头线 i.元器 件安装不当j.错用元器件

快速溫變試驗條件溫度曲線解析： 

低溫曝露：-40℃ 高溫曝露：85℃ 溫變速率：15℃/min線性 負載：30KG鋁負載（800L內箱容積） 恒定時間：30min 溫度均勻性：±2℃ 升降溫至目標值初期，溫度過沖約±5℃） 備註：依據MIL-STD-2164、IEC60068-2-14，執行溫度迴圈應力篩選試驗時，需從常溫開始進行。與傳統冷熱衝擊試驗及溫度迴圈有所區別。

試驗條件Test Standard：